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如圖所示為反射光強(qiáng)度的檢測(cè)電路。該電路由紅外發(fā)光二極管、光電二極管、CMOS模擬開關(guān)、運(yùn)算放大器等組成。 電路正常工作時(shí)，首先使紅外發(fā)光二極管(LED)不發(fā)光，光電二極管接收到的外部干擾信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)后加至負(fù)方向積分電路，設(shè)此段時(shí)間為T1；然后使LED發(fā)光，光電二極管接收到的光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)后加至正方向積分電路，設(shè)此段時(shí)間為T2。設(shè)T1=T2。則電路顯示出來所保持的信號(hào)與外部干擾無關(guān)，僅與反射光強(qiáng)度有關(guān)。保持信號(hào)的這段時(shí)間稱為保持時(shí)間，記為T3。相應(yīng)積分器復(fù)位對(duì)應(yīng)的時(shí)間為T4。在工作頻率(50Hz或60Hz)下，為了有效地避免同步外部干擾，最好使T1=T2=N/f(N取整數(shù)，f為工作頻率)，或者取T1=T2＜＜1/f。該電路結(jié)構(gòu)簡單，使用輸出功率為5～10mW的紅外發(fā)光二極管和光電二極管，可在距離10～100mm處檢測(cè)反射光強(qiáng)度。電路中運(yùn)算放大器的輸入偏置電流應(yīng)遠(yuǎn)小于光電流。電路增益取決于積分時(shí)間和積分電容Ci。本電路除了可以排除干擾檢測(cè)反射光強(qiáng)度(反射光率)外，還可用于檢測(cè)距離、傾斜和通過率，特別適用于檢測(cè)各種光強(qiáng)。此外，本電路還可用于霍爾元件的磁性測(cè)量及其他測(cè)量。 |
