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大功率2651A型數(shù)字源表進(jìn)一步豐富了2600A系列產(chǎn)品。該源表專門針對大功率電子器件的特性分析和測試而優(yōu)化設(shè)計，可幫助用戶在研發(fā)、可靠性及生產(chǎn)領(lǐng)域提高生產(chǎn)力，包括高亮度LED、功率半導(dǎo)體、DC/DC轉(zhuǎn)換器、電池，以及其他大功率材料、元件、模塊和組件的特性分析和測試。 與2600A系列產(chǎn)品的每個成員一樣，2651A具有高靈活性、四象限電壓和電流源/負(fù)載，組合了精密電壓和電流表。該源表可作為： 半導(dǎo)體特性分析儀器 電壓或電流波形發(fā)生器 電壓或電流脈沖發(fā)生器 精密電源 真電流源 數(shù)字多用表(直流電壓，直流電流，電阻和功率，分辨率達(dá)5½位) 精密電子負(fù)載
Part II 2651A的特性 兩種測量模式：數(shù)字化或積分 2651A型有兩種測量模式可對瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)行為進(jìn)行精密地特性分析，包括快速變化的熱效應(yīng)。每種模式均由其獨(dú)立的模/數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換器定義。 在數(shù)字化測量模式下，連續(xù)進(jìn)行1μs/點(diǎn)采樣，每秒可捕獲1,000,000個讀數(shù)。其18位A/D轉(zhuǎn)換器使用戶能夠精密測量瞬態(tài)特性。對于更準(zhǔn)確的測量，可利用基于22位A/D轉(zhuǎn)換器的積分測量模式。全部2600A系列儀器均具有積分測量模式。 每種測量模式下使用兩個A/D轉(zhuǎn)換器(一個用于電流，另一個用于電壓)，可同時運(yùn)行用于準(zhǔn)確源讀回，不會影響測試效率。 
雙數(shù)字化A/D轉(zhuǎn)換器以高達(dá)1μs/點(diǎn)速率進(jìn)行連續(xù)采樣，同時對電流和電壓波形進(jìn)行特性分析。 高速脈沖 2651A型能夠準(zhǔn)確輸出和測量短至100μs的脈沖，將測試期間的自熱效應(yīng)影響降至最低。更大的控制靈活性使用戶能夠在100μs至DC范圍內(nèi)編程脈寬，在1%至100%范圍內(nèi)編程占空比。單臺儀器可輸出高達(dá)50A電流脈沖，兩臺組合可輸出高達(dá)100A電流脈沖。 擴(kuò)展能力 利用TSP-Link®，可將多臺2651A和其他2600A系列儀器組合在一起，形成最多64路通道的更大集成系統(tǒng)。利用內(nèi)置500ns觸發(fā)控制器，確保精密定時和嚴(yán)格通道同步。源表儀器的完全隔離、獨(dú)立通道確保了真正的SMU-per-pin測試。
吉時利的TSP和TSP-Link技術(shù)確保實(shí)現(xiàn)真正的SMU-per-pin測試，不存在基于主機(jī)系統(tǒng)的功率和/或通道限制。 此外，兩臺2651A型采用TSP-Link并聯(lián)時，電流量程從50A擴(kuò)展至100A。當(dāng)兩個單元串聯(lián)時，電壓范圍從40V擴(kuò)展至80V。內(nèi)置智能特性使多個單元可作為單臺儀器進(jìn)行尋址，簡化了測試，由此形成業(yè)內(nèi)最佳的動態(tài)范圍(100A至1pA)。這種能力確保用戶可測試各種各樣的功率半導(dǎo)體和其他器件。
高達(dá)50A (2個單元可達(dá)100A)的精密測量確保更完善和準(zhǔn)確的特性分析。
1μV測量分辨率和高達(dá)50A (2個單元可達(dá)100A)的電流源輸出確保低電平Rds測量，支持新一代器件。 2600A系列儀器的標(biāo)準(zhǔn)能力 每款2651A均具備其他2600A系列儀器提供的全部特性和能力，包括： 既可作為臺式I-V特性分析工具，又可作為多通道I-V測試系統(tǒng)的組成部分。 無需編程或安裝，TSP Express軟件即可快速、簡便地執(zhí)行常見的I-V測試。 ACS基本版軟件，用于半導(dǎo)體元器件特性分析(選件)。ACS基本版軟件現(xiàn)在具備一種Trace模式，用于產(chǎn)生一套特性曲線。 吉時利的TSP®(測試腳本處理器)軟件，能夠創(chuàng)建用戶自定義測試腳本，實(shí)現(xiàn)自動化程度更高的測試，并且支持創(chuàng)建編程序列，使儀器在沒有PC直接控制的情況下異步工作。 多臺2600A系列儀器連接在一個系統(tǒng)中，實(shí)現(xiàn)并行測試和精密定時。 符合LXI class C標(biāo)準(zhǔn)。 14位I/O線，與探針臺、元件裝卸裝置或其他自動化工具直接交互。 USB端口，利用USB存儲裝置實(shí)現(xiàn)更大的數(shù)據(jù)和程序存儲空間。 Part III 2651A的應(yīng)用領(lǐng)域 輕松支持當(dāng)今具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用： 功率半導(dǎo)體、HBLED和光器件特性分析和測試 GaN、SIC及其他復(fù)合材料和器件的特性分析 高速、高精度數(shù)字化 電遷移研究 大電流、大功率器件測試
1.每種測量模式下使用兩個A/D轉(zhuǎn)換器(一個用于電流，另一個用于電壓)，可同時運(yùn)行用于準(zhǔn)確源讀回，不會影響測試效率。 當(dāng)用于一個系統(tǒng)時，全部2600A系列的通道以500ns同步，實(shí)現(xiàn)真正的SMU-per-pin測試，主機(jī)不存在功率或通道限制。 2.將熱效應(yīng)降至最小，準(zhǔn)確特性分析半導(dǎo)體結(jié)溫效應(yīng) 準(zhǔn)確源出和測量短至100μs的脈沖，并且脈沖從100μs至直流、上升時間從25μs、占空比從1%至100%可編程。 捕獲快速變化現(xiàn)象，速率達(dá)1,000,000讀數(shù)/秒，連續(xù)1μs/點(diǎn)采樣。 3.提高試驗(yàn)可靠性和可重復(fù)性 精密定時和嚴(yán)格的通道同步對當(dāng)今的測試要求至關(guān)重要。2651A型具有一款高性能觸發(fā)型號，精確控制每一源測量步驟的定時。它還嚴(yán)格同步通道之間和/或其他2600A系列儀器之間的工作，采用TSP-Link，硬件速度<500ns。更重要的是，SMU-per-pin測試防止測量和負(fù)載信號失真。這些功能可幫助您提高吞吐量，降低可能損壞DUT的影響，并獲得高準(zhǔn)確度和可復(fù)現(xiàn)的測量結(jié)果。 4.快速、簡便地執(zhí)行I-V測試 無需編程或安裝，TSP® Express軟件工具即執(zhí)行常見的I-V測試。嵌入式測試腳本處理器(TSP®)使用戶能夠創(chuàng)建儀器可直接運(yùn)行的腳本，進(jìn)一步提高測試自動化。
該TSP Express測量屏幕所示為利用兩臺2651A單元并聯(lián)獲得100A脈沖能力。能夠以圖形或表格格式查看結(jié)果，然后導(dǎo)出至.csv格式文件，可用于電子表格軟件。
從基本測試到高級測試，利用TSP Express都能快速、簡便的配置。 |
