不要將多個探頭同時連接到同一位置

PRBTEK

       我們知道，所有測量儀器（包括示波器）都有其性能的限制，都會對測量結果帶來影響。我們要使用特定的探頭將示波器連接到電路上的行為會以特定的方式影響測量。探頭在測試點與待測電路并聯，通過施加額外的電阻和電容負載來影響電路。

       此外，由于帶寬、上升時間和共模響應的限制，探頭本身也限制了測量的準確度。因此，在進行測量時，比較不同的探頭對測量的影響是不同的，但不要嘗試一次全部完成。

       如果同時將兩個或多個探頭連接到同一測試點，會發生什么情況？探頭之間會相互影響，改變彼此的響應。

       讓我們看一下兩種不同的探頭分別如何影響LED驅動器中上側柵極驅動器測量的情況。一種探頭是高壓光纖光隔離探頭（HVFO），另一個“探頭”是一個老式的差分放大器（DA），它使用一對匹配的高壓探頭來實現差分輸入。

       首先，分別使用每個探頭進行測量，如下圖所示。

       用DA探頭進行的測量顯示出更多異常，與HVFO探頭相比，大多數異常可歸因于較差的共模抑制比（CMRR）。這在正脈沖的上升沿之前的負脈沖中最為明顯，這發生在下側MOSFET狀態改變時，這是一個很快的dV/dT事件，會產生明顯的共模干擾。具有較高CMRR的HVFO探頭受到的影響較小：與DA探頭相比，幅度小一半。在脈沖的基線和頂部，DA探頭測量的波形傾斜可能是由其探頭對的負載引起的。

       現在，讓我們看一下同時在電路中使用HVFO和DA探頭進行測量的結果，如下圖所示。

       當兩個探頭同時連接時，它們會相互增加負載，從而導致其響應發生變化。請注意，當獨立進行測量時，HVFO探頭的負尖峰幅度更小。DA探頭的額外負載降低了HVFO探頭的CMRR。此外，DA的電路負載改變了測試點的波形，而HVFO測量的波形也隨之改變。從本質上講，DA的負載已與HVFO探頭結果耦合在一起。

       顯而易見的結論是，不應同時使用多個探頭連接到同一測試點進行測量。如果要比較不同探頭的結果，最好的進行方法是單獨測量，將采集的數據存儲到示波器存儲器中。然后，可以調出波形并將其與實時采集的波形或另一個存儲的波形進行比較，而不會影響探頭的負載。

       以上內容由普科科技PRBTEK整理，公司致力于示波器測試附件配件研發、生產、銷售，涵蓋產品包含電流探頭、差分探頭、高壓探頭、無源探頭、電源紋波探頭、柔性電流探頭、近場探頭、邏輯探頭、功率探頭和光探頭等，滿足客戶多樣化測試需求，庫存充足，價格合理。詳情訪問官網www.prbtek.com