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Introspect MIPI C/D-PHY點屏測試（Pattern Generator）解決方案

發(fā)布時間：2021-8-30 17:39 發(fā)布者：reetest

關(guān)鍵詞： D-PHY點屏測試 , C-PHY點屏測試 , D-PHY點燈設(shè)備 , C-PHY點燈設(shè)備 , C-PHY屏量產(chǎn)測試

Introspect所開發(fā)的一整套完整的MIPI D-PHY/C-PHY LCD/OLED點屏測試設(shè)備解決方案，該方案可同時支持單屏研發(fā)測試驗證或1拖多等屏幕量產(chǎn)測試。

方案特色：

· 同一個硬件能同時支持D-PHY和C-PHY

· 支持多通道測試：D-PHY 4 Lanes & C-PHY 4 Trios

· 支持D-PHY 2.5Gbps及C-PHY 2.5Gsps

· 支持業(yè)界最新的CSI/DSI測試規(guī)范

· 支持Dual Port D-PHY & C-PHY

· 具備BTA功能：

-BTA功能可讀取屏的接收狀態(tài)

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網(wǎng)友評論

reetest 發(fā)表于 2021-8-30 17:40:21

-用以確認屏的接收是否出現(xiàn)接收異常
-藉由此功能，能達到實時確認屏的接收是否出現(xiàn)異常
-特別適合于高溫高濕的環(huán)境測試來進行屏的接收狀態(tài)實時監(jiān)控
更多產(chǎn)品信息請聯(lián)系：henry.liu@reetest.com, 0755-23081325

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