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實驗名稱：單個環形柔性IDT損傷檢測的初步研究 測試目的：搭建實驗平臺對單個環形柔性IDT的頻率響應特性、振動輸出響應、方位特性、距離衰減特性以及損傷檢測進行實驗研究。 測試設備：ATA-2082高壓放大器、示波器、信號發生器以及粘貼有單個環形柔性IDT的待檢測鋁板等。 圖1：單個環形柔性IDT陣列的損傷檢測實驗平臺 搭建的針對單個環形柔性IDT損傷檢測的實驗平臺，其中圖1(a)為實驗裝置的布置圖，圖1(b)為實驗儀器的線路連接圖。利用在鋁板正反面吸附半徑為5mm的強磁鐵作為損傷，其位置坐標為（-141.4mm，141.4mm），距離單個環形柔性IDT的距離為200mm。實驗時通過信號發生器輸出頻率為200kHz，幅值為5V的五峰窄帶調制正弦信號作為激勵信號，其波形圖如圖2(a)所示，由電壓放大器放大20倍后經PZT輸出，單個環形柔性IDT接收信號并通過示波器顯示并導出分析。 如圖2(b)和(c)為單個環形柔性IDT接收到鋁板無損傷時的原始波形圖和鋁板有損傷時的原始波形圖。通過將單個環形柔性IDT接收到的鋁板有損傷時的波形信號與鋁板無損傷時的波形信號進行做差，可得到如圖2(d)所示的損傷反射波的波形圖。 圖2：單個環形柔性IDT損傷檢測的波形圖 通過對單個環形柔性IDT的損傷檢測進行初步研究，發現可明顯的觀察到損傷反射波的S0模態與A0模態，并利用一維定位的方式，確定了損傷的位置，驗證了單個環形柔性IDT陣列具有良好的損傷檢測性能，可將其應用于結構健康監測中。 電壓放大器推薦：ATA-2082 圖：ATA-2082高壓放大器指標參數 本資料由Aigtek安泰電子整理發布，更多案例及產品詳情請持續關注我們。西安安泰電子Aigtek已經成為在業界擁有廣泛產品線，且具有相當規模的儀器設備供應商，樣機都支持免費試用。高壓放大器https://www.aigtek.com/products/bk-gyfdq.html |
