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美國國家儀器公司（National Instruments, 簡稱 NI）近日發(fā)布《2012年自動化測試趨勢展望》,其中分享了公司對最新測試測量技術(shù)和方法的研究發(fā)現(xiàn)。 該趨勢報(bào)告詳細(xì)介紹了影響眾多行業(yè)的發(fā)展趨勢，包括消費(fèi)電子產(chǎn)品、汽車、半導(dǎo)體，航空航天與國防、醫(yī)療設(shè)備以及通訊。 工程師和管理人員可從中了解并采用優(yōu)化測試組織的最新策略和最佳方式。 2012年趨勢展望報(bào)告由5個(gè)類別組成： 商業(yè)戰(zhàn)略、架構(gòu)、計(jì)算、軟件和I/O，并探討了以下主要趨勢： • 測試組織的優(yōu)化: 各個(gè)組織將測試工程視為戰(zhàn)略資產(chǎn)，以在競爭中獲得優(yōu)勢。 • 設(shè)計(jì)流程中的測量與仿真：將復(fù)雜模型與真實(shí)測量結(jié)合，提高產(chǎn)品質(zhì)量，縮短開發(fā)時(shí)間。 • PCI Express外部接口: 高速、低延遲PC內(nèi)部總線擁有新的系統(tǒng)拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，并增強(qiáng)了外部接口功能。 • 移動設(shè)備的迅速普及: “智能手機(jī)和平板電腦的普及”正改變著測試系統(tǒng)控制和監(jiān)測的方式。 • 便攜的測量算法：全新工具可實(shí)現(xiàn)一次開發(fā)測量IP，即可部署至多個(gè)不同的處理單元。 《2012年自動化測試趨勢展望》的內(nèi)容源于學(xué)術(shù)界和工業(yè)界的研究、用戶論壇與調(diào)查、商業(yè)智能化和用戶顧問委員會的反饋意見。 該報(bào)告以數(shù)據(jù)為基礎(chǔ)，詳細(xì)介紹了下一代技術(shù)趨勢，以此應(yīng)對測試測量領(lǐng)域的商業(yè)和技術(shù)挑戰(zhàn)。 《自動化測試趨勢展望》由NI測試行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)委員會編寫，NI創(chuàng)立該委員會，旨在促進(jìn)全球不同行業(yè)內(nèi)數(shù)千家客戶分享反饋各自的最佳測試測量方法。 NI測試行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)委員會以促進(jìn)測試行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)人之間的交流為目標(biāo)，鼓勵他們提出商業(yè)和技術(shù)的獨(dú)到見解。 領(lǐng)導(dǎo)委員會的活動內(nèi)容包括領(lǐng)導(dǎo)人會議、同行互通網(wǎng)絡(luò)和技術(shù)交流。 請?jiān)L問 ni.com/ato/zhs，詳細(xì)閱讀2012年《自動化測試趨勢展望》。 |
