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納米技術(shù)是一個(gè)重要的新研究領(lǐng)域，它對(duì)于電子、材料、生物、替代能源和很多其他應(yīng)用都將產(chǎn)生巨大的推動(dòng)作用。 要想掌握新的組件材料如納米晶體、納米管、納米線和納米光線在未來電子器件中的行為特征，需要能夠在很寬范圍內(nèi)進(jìn)行電阻和電導(dǎo)率特 征分析的測試儀器。這常常需要測量很小的電流和電壓納米技術(shù)研究發(fā)展十分迅速。 實(shí)際上，很多科學(xué)家和工程技術(shù)人員發(fā)現(xiàn)他們現(xiàn)有的測量工具只是缺乏對(duì)與納米技術(shù)材料研究相關(guān)的低值信號(hào)進(jìn)行有效特征分析所需的靈敏度和分辨率。同時(shí)，其他一些人則忙于跟蹤新技術(shù)帶來的測量需求的快速變化。 能夠在納米級(jí)進(jìn)行精確而可重復(fù)的測量對(duì)于希望開發(fā)下一代材料的工程技術(shù)人員而言是至關(guān)重要的。 下載： 
納米測試技術(shù)的新挑戰(zhàn).pdf
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