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基于KTE7的全新S530平臺最大化測量性能、降低成本，助力半導體制造商開拓新興市場 泰克科技日前發布了全新Keithley S530系列參數測試系統，該系統搭載了KTE 7軟件，提供更多增強功能。S530平臺使半導體制造商為高速增長的新技術增加參數測試功能，同時最大程度地減少資本投入和提高每小時晶圓制造效率。這將降低整體擁有成本，幫助制造商在競爭激烈的新興市場中應對巨大的價格壓力。 
基于新興GaN和SiC寬禁帶技術的新型半導體產品，有望實現更快的開關速度，更寬的溫度范圍，更好的功率效率，以及其他更多增強功能。為滿足這些產品的測試需求，基于KTE 7的S530平臺擁有實驗室級測量性能，并且設置和測試時間最短。針對新應用的出現和需求的變化，可以實現高達1100V的全面靈活的高速配置。芯片制造商以最少的測試/設置時間，在單個系統上、以最少的投資，可以經濟高效地擴展到高增長的功率和寬禁帶器件中(包括汽車市場)。 “模擬和混合信號半導體制造商在5G通信、汽車、物聯網、醫療、綠色能源等市場，不斷受到新的最終用戶應用的強勁需求。”吉時利/泰克公司副總裁兼總經理Chris Bohn說，“測試平臺的這一重大升級，可以幫助這些客戶更迅速、更經濟地向市場上推出新產品，同時使他們能夠適應未來的新要求。” S530系列的創新技術在多種產品組合中最大化儀器的利用率，現有的測試軟件、探頭卡和其他項目可以簡便實現升級換代，同時全面實現數據關聯，明顯改善速度。S530-HV能夠在任何引腳上測試高達1100V的電壓，與功率和寬禁帶應用中的其他競爭系統相比，吞吐量可提升50%以上。芯片制造商可以使用單個系統測試多種產品組合，包括根據IATF-16949質量管理標準進行汽車產品測試，也可以通過泰克的服務機構進行校準，以提供全球范圍內的優質人員支持。 基于KTE 7的平臺為半導體制造商的傳統S600和S400系統提供了最簡便、最經濟的演進道路，在保持全面數據關聯的同時，與S600相比，吞吐量可以提高達25%。 功能明顯增強，并創下多項業界第一 從低壓(<200V)轉移到高壓(>200V)晶圓級測試時，S530-HV選配的Testhead省去了更換儀表、探針卡和線纜測試設置所需的操作員時間。通過Testhead測試頭，探針卡可以兼容多家廠商的多種型號，從而可以更快地更換探針卡，并根據ISO-17025進行引腳校準，同時保持向后兼容性。這可以最大限度地降低演進成本，保護了用戶投資，同時支持各種新的要求，比如IATF-16949汽車標準。 S530-HV可以在任何引腳上測試高達1100V的電壓，其吞吐量在功率和寬禁帶應用中較競爭系統提高50%以上。操作人員可以把任何測試資源以任何順序連接到任何測試引腳，迅速簡便地滿足生產要求，而無需重新配置或重新裝備信號路徑。 KTE軟件兼容能力大大簡化并加快了例如從傳統S600系統的演進道路，實現全面數據關聯，吞吐量可提高達25%。 內置瞬態過壓/過流保護防止意外損壞探針卡、探針和儀器，這在高速寬禁帶應用中尤為關鍵。 在系統校準過程中，全新5880-SRU系統基準單元自動切換所有DC和AC參考標準，而無需手動連接或斷開。這種全自動流程大大縮短了執行校準時的系統中斷時間，降低了后續支持成本，進而降低了整體擁有成本。 供貨情況 S530系列參數測試系統現已在全球范圍內上市，如需更多信息，敬請訪問：https://www.tek.com.cn/keithley-s540-parametric-test-system。 |
