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1. 測試對象 HD-G2UL-EVM基于HD-G2UL-CORE工業級核心板設計，一路千兆網口、一路CAN-bus、 3路TTL UART、LCD、WiFi、CSI 攝像頭接口等，接口豐富，適用于工業現場應用需求，亦方便用戶評估核心板及CPU的性能。 HD-G2UL-CORE系列工業級核心板基于RZ/G2UL微處理器配備Cortex®-A55 (1 GHz) CPU、16位DDR3L/DDR4接口。此外，這款微處理器還配備有大量接口，如攝像頭輸入、 顯示輸出、USB 2.0 和千兆以太網，因此特別適用于入門級工業人機界面(HMI)和具有視頻功能的嵌入式設備等應用。 圖1.1 HD-G2UL-EVM評估板 1. 測試目的 低溫存儲測試的主要目的是測試設備的可靠性和穩定性。 低溫存儲測試可以模擬設備在極端溫度條件下的工作環境，例如極寒的氣候或高空環境。測試過程中，設備將處于非常低的溫度下，可能會導致某些部件或系統出現故障或性能下降。通過測試設備在這種條件下的性能和可靠性，可以幫助制造商確定是否需要改進設計或使用更可靠的組件。 在低溫存儲測試之后，啟動開發板的目的是檢查設備是否能夠正常啟動并運行。這可以驗證設備在低溫條件下的可靠性和穩定性，以及設備在此條件下的操作是否符合預期。如果設備無法正常啟動或運行，測試結果將指示可能需要改進設計或使用更可靠的組件。 總之，低溫存儲測試和啟動開發板的目的是為了驗證設備的可靠性和穩定性，并確定是否需要改進設計或使用更可靠的組件。 2. 測試結果 表2.1 測試結果 3. 測試準備 1.2套HD-G2UL-EVM評估板、網線、Type-C數據線，電腦主機。 2.高低溫試驗箱。 4. 測試環境 圖4.1 測試環境 5. 測試過程 5.1-40℃低溫啟動 將環境溫度設置-40℃，如圖5.1所示。被測試樣機低溫存儲2小時，2小時后上電啟動。 圖5.1 高低溫試驗箱 上電后兩套HD-G2UL-EVM評估板啟動正常，未出現系統異常死機等情況。此時環境溫度-40℃，兩套評估板CPU溫度分別為-18.5℃和-19.5℃，如圖5.3圖5.3所示。 圖5.2 圖5.3 6. 關于HD-G2UL-EVM-IOT 6.1硬件參數 HD-G2UL-EVM-IOT板載的外設功能：
HD-G2UL-EVM-CORE核心板硬件資源參數： 注：受限于主板的尺寸與接口布局，核心板部分資源在IoT底板上引出。 |
