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實(shí)驗(yàn)名稱：光纖激光相控陣室內(nèi)相干合成實(shí)驗(yàn) 測試設(shè)備：高壓放大器、光纖激光器、位置敏感傳感器等。 實(shí)驗(yàn)過程： 圖1：光纖激光相控陣系統(tǒng)的示意圖 實(shí)驗(yàn)中SPGD算法輸出的電壓控制信號由采集卡分別輸出至PZT-PC和AFOC的高壓放大器上，以對活塞相差和傾斜相差進(jìn)行實(shí)時的補(bǔ)償校正，系統(tǒng)算法迭代速率已經(jīng)可以滿足實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下數(shù)百Hz量級的動態(tài)相差實(shí)時校正需求，其中鎖相控制迭代速率為9.8kHz，傾斜控制迭代速率為1kHz。在驅(qū)動AFOC時，算法控制器輸出的控制電壓被高壓放大器（HVA）放大了一百倍，以產(chǎn)生足夠大的推力。實(shí)驗(yàn)結(jié)果： 圖2：歸一化性能指標(biāo)變化曲線 分別采集5s開環(huán)狀態(tài)、僅鎖相控制狀態(tài)與鎖相控制和傾斜控制同時運(yùn)行的閉環(huán)狀態(tài)下合成光束的性能指標(biāo)與遠(yuǎn)場長曝光圖像，然后對其進(jìn)行分析。由PD采集的15s歸一化性能指標(biāo)曲線如圖2所示。當(dāng)未校正活塞相差和傾斜相差時，系統(tǒng)處于開環(huán)狀態(tài),歸一化性能指標(biāo)均值（Ave）為0.0182，其開環(huán)狀態(tài)下的均方誤差（MSE）為0.0162，這兩個指標(biāo)都是無量綱的數(shù)據(jù)，Ave越高，代表合成光束質(zhì)量越好，MSE越高，則光斑強(qiáng)度的抖動越明顯。36ms之后，系統(tǒng)通過鎖相控制并進(jìn)入收斂狀態(tài)（SPGD算法的收斂時間定義為歸一化目標(biāo)函數(shù)達(dá)到穩(wěn)定值的90％時所需的時間）。當(dāng)活塞相差得到校正并且系統(tǒng)處于鎖相狀態(tài)時，Ave值從0.0182上升至0.335，MSE從0.0162下降到0.0021，這表明鎖相控制能提升部分相干合成的效果。在670ms之后，活塞相差和傾斜相差均得到校正，此時Ave值進(jìn)一步上升至0.994，由于閉環(huán)時進(jìn)行的傾斜控制會使AFOC中光纖端面發(fā)生輕微抖動，因此MSE略微上升至0.0034。比較這三種狀態(tài)下的歸一化性能指標(biāo)強(qiáng)度可知，只有同時校正活塞相差和傾斜相差，針孔中的能量密度才能達(dá)到實(shí)驗(yàn)過程中的最高值，取得高效的相干合成效果。 圖3：遠(yuǎn)場光斑的歸一化長曝光圖像(a)開環(huán)；(b)僅鎖相控制；(c)閉環(huán) 遠(yuǎn)場中合成光束的5s長曝光圖像如圖3所示。其對應(yīng)的PIB可以通過計(jì)算合成光束主瓣像素的強(qiáng)度與整個遠(yuǎn)場圖像的像素強(qiáng)度的比值來獲得。圖3（a）顯示了開環(huán)時不執(zhí)行鎖相和傾斜控制的長曝光圖像。從圖中可以看出，相機(jī)表面幾乎沒有干涉圖樣，遠(yuǎn)場光斑處于非相干狀態(tài)，同時合成光束的能量集中度非常低，PIB的均值僅為0.08。圖3（b）顯示了僅執(zhí)行鎖相控制時的遠(yuǎn)場光斑長時間曝光圖像�？梢钥闯�，在相機(jī)靶面上出現(xiàn)了部分相干合成效果，合成光束的主瓣周圍出現(xiàn)了四個旁瓣。在此階段，合成光束的PIB均值為0.26，比開環(huán)狀態(tài)高0.18。圖3（c）是閉環(huán)后遠(yuǎn)場光斑的長曝光圖像。當(dāng)閉環(huán)狀態(tài)穩(wěn)定時，可以看出在遠(yuǎn)場中有7個清晰的光斑。此時，合成光束主瓣的強(qiáng)度明顯高于其他兩個狀態(tài)，其平均PIB為0.49，是實(shí)驗(yàn)中的最高水平。高壓放大器推薦：ATA-7020 圖：ATA-7020高壓放大器指標(biāo)參數(shù) 本資料由Aigtek安泰電子整理發(fā)布，更多案例及產(chǎn)品詳情請持續(xù)關(guān)注我們。西安安泰電子Aigtek已經(jīng)成為在業(yè)界擁有廣泛產(chǎn)品線，且具有相當(dāng)規(guī)模的儀器設(shè)備供應(yīng)商，樣機(jī)都支持免費(fèi)試用。高壓放大器https://www.aigtek.com/products/bk-gyfdq.html |
